FISCHERSCOPE® MMS® Automation

Die Basis für die automatisierte Qualitätskontrolle bildet für viele Anwendungen das Mess-System  FISCHER- SCOPE®  MMS®  Automation. Durch seinen modularen Aufbau ist es auf maximale Flexibilität ausgelegt: Mit bis zu vier installierten Modulen kann eine Vielfalt von Messaufgaben  rundum Schichtdicke und elektrische Leitfähigkeit gelöst werden.

Das Mess-System besteht aus drei Hauptteilen. Die Messwerterfassung erfolgt mit Sonden, die zum Beispiel an einen Roboterarm montiert werden. Über eine Digitalisierungseinheit – das MMS-Modul – gelangen die Sondensignale zur Grundeinheit.

Die Grundeinheit wird im Schaltschrank montiert  und ist für die Überwachung der Messung zuständig. Sie kommuniziert über eine RS-232-Schnittstelle mit übergeordneten Einheiten.

Die passende Ausstattung für Ihre Anwendung

Durch die modulare Bauweise lässt sich das FISCHER- SCOPE MMS Automation speziell an Ihre Bedürfnisse anpassen und jederzeit erweitern. Es sind insgesamt 5 verschiedene Module verfügbar.

PERMASCOPE^®

Das PERMASCOPE  ist das  vielseitige  Modul  für die Schichtdickenmessung. Es vereint zwei Messmethoden in sich: das magnetinduktive und das Wirbelstromver- fahren. Typische Anwendungen:

• Elektrisch isolierende Schichten auf verschiedenen Metallen, z. B. Lack auf Stahl oder Aluminium
• Elektrisch leitende, nicht magnetisierbare Schichten auf Eisenmetallen, z. B. Zink, Kupfer oder Chrom auf Stahl
• Schwach elektrisch leitfähige Schichten auf gut leit- fähigen Metallen, z. B. Chrom und chemisch Nickel auf Kupfer oder Aluminium

NICKELSCOPE^®

Das NICKELSCOPE basiert auf dem Hall-Effekt und nutzt die unterschiedliche Magnetisierbarkeit von Schicht- und Grundwerkstoffen für die Dickenmessung. Typische Anwendungen:

• Galvanische Nickelschichten auf Nichteisenmetal- len und isolierenden Grundwerkstoffen
• Nicht magnetische Schichten wie Kupfer, Alumini- um oder Blei auf Stahl oder Eisen

SR-SCOPE

Das SR-SCOPE ist ein Spezial-Modul für die Elektronikindustrie. Es arbeitet nach der Mikro-Widerstands-Methode und ist geeignet, um die Dicke einzelner Kupfer- Schichten auf Multilayer-Leiterplatten zu messen – ohne den Einfluss von tieferliegenden Schichten.

SIGMASCOPE^®

Das SIGMASCOPE bestimmt die elektrische Leitfähigkeit von Metallen und kann entweder für die Schichtdicken- messung oder zum Identifizieren von Nichteisenmetallen eingesetzt werden. Typische Anwendungen:

• Messung von Kupferschichten auf Leiterplatten
• Prüfung von Aluminium-Legierungen im Wareneingang

MERKMALE

• Modulares Mess-System für Leitfähigkeit und Schichtdicke
• Vollständig fernbedienbar
• Modul und Sonde werden direkt am Roboter montiert (abgeschirmt gegen Umwelteinflüsse)
• Verbindung von Modul und Grundeinheit über schleppkettentaugliche Kabel mit bis zu 30 m Länge
• Kommunikation mit Steuereinheiten über eine RS-232 - Schnittstelle